ကြွေထည်အလွှာများ၏စစ်ဆေးရေးနည်းလမ်းများ

လက်ရှိတွင်အပြီးသတ်ကြွေထည်အလွှာ၏အဓိကစစ်ဆေးခြင်းသည်အမြင်အာရုံစစ်ဆေးခြင်း, စက်မှုဂုဏ်သတ္တိများစစ်ဆေးခြင်း, အပူဂုဏ်သတ္တိများစစ်ဆေးခြင်း, လျှပ်စစ်ဂုဏ်သတ္တိများစစ်ဆေးခြင်း, ထုပ်ပိုးခြင်းစစ်ဆေးခြင်း,

အသွင်အပြင်စစ်ဆေးရေး

အသွင်အပြင်စစ်ဆေးခြင်းသည်ကြွေထည်အလွှာများကိုစစ်ဆေးခြင်းကိုကြည့်ရှုခြင်းသို့မဟုတ် optical microscopy တို့အားပုံမှန်အနေဖြင့်သတ္တုအလွှာ, အခွံ, အခွံ, ထို့အပြင်အလွှာများ၏အောက်ပိုင်းအရွယ်အစား, သတ္တုအလွှာအထူ, အလွှာများ၏အထူ , အလွှာများ၏စစ်အောင့်များ နှင့်အလွှာမျက်နှာပြင်၏ဂိလန်းတိကျမှန်ကန်မှုကိုစမ်းသပ်ရန်လိုအပ်သည်။ အထူးသဖြင့် Flip-chip bonding ထုပ်ပိုးခြင်း, သိပ်သည်းဆထုပ်ပိုးမှုထုပ်ပိုးခြင်း,

မကြာသေးမီနှစ်များအတွင်းကွန်ပျူတာနည်းပညာနှင့်ပုံရိပ်ပြုပြင်ခြင်းနည်းပညာကိုစဉ်ဆက်မပြတ်ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုနှင့်အတူကုန်ထုတ်လုပ်မှုစက်မှုလုပ်ငန်း၏အသွင်ကူးရေးစက်မှုလုပ်ငန်း၏အသွင်ပြောင်းနှင့်အဆင့်မြှင့်တင်ရေးအတွက်ထုတ်လုပ်သူအားလုံးနီးပါးတိုးပွားလာ စက်အမြင်အာရုံကို အခြေခံ. ရှာဖွေတွေ့ရှိမှုနည်းစနစ်များနှင့်ကိရိယာများသည်ကုန်ပစ္စည်းအရည်အသွေးတိုးတက်စေရန်နှင့်အထွက်နှုန်းတိုးတက်စေရန်အရေးကြီးသောနည်းလမ်းများဖြစ်လာသည်။ ထို့ကြောင့်စက်ဝိုင်းအလွှာများကိုရှာဖွေရန်စက်စက်စက်စစ်ဆေးခြင်းဆိုင်ရာပစ္စည်းကိရိယာများအသုံးပြုခြင်းသည်ရှာဖွေတွေ့ရှိခြင်းစွမ်းရည်ကိုတိုးတက်စေပြီးအလုပ်သမားကုန်ကျစရိတ်ကိုလျှော့ချနိုင်သည်။

စက်မှုဂုဏ်သတ္တိများစစ်ဆေးခြင်း

ကြွေထည်ဆိုင်ရာအလွှာ၏စက်မှုဆိုင်ရာဂုဏ်သတ္တိများသည်အဓိကအားဖြင့်သတ္တုအလွှာအလွှာ၏နှောင်ကြိုးအလွှာနှင့်ကြွေအလွှာ၏နှောင်ကြိုးအင်အားစုများကိုရည်ညွှန်းသည်။ ။ ကွဲပြားခြားနားသောနည်းလမ်းများဖြင့်ပြင်ဆင်ထားသည့်ကြွေထည်များကိုနှောင်ကြိုးခိုင်မြဲသည့်အစွမ်းသတ္တိကိုအတော်လေးကွဲပြားခြားနားသည်။ အပူချိန်မြင့်မားသော Planar Ceramic အလွှာများသည်များသောအားဖြင့်သတ္တုအလွှာနှင့်ကြွေထည်အကြားရှိဓာတုငွေချေးစာချုပ်များနှင့်ချိတ်ဆက်ထားသည် အဆိုပါနှောင်ကြိုးအစွမ်းသတ္တိမြင့်တော်မူ၏။ အပူချိန်နိမ့်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ် (DPC အလွှာကဲ့သို့) အနိမ့်သောအပူချိန်ဖြစ်စဉ်ဖြင့်ပြင်ဆင်ထားသောကြွေထည်များ၌ဗင်ကား Der Waals သည်သတ္တုအလွှာနှင့်ကြွေထည်အလွှာများအကြားစက်မှုကိုက်ကိုက်မှုနှင့်စက်ဝိုင်းအကြားရှိစက်ဘီးစီးခြင်းနှင့်စည်းမျဉ်းစည်းကမ်းများနည်းပါးသည်။

substrate ပေါ်ရှိကြွေထည်ဆိုင်ရာသတ္တုအစွမ်းသတ္တိအတွက်စစ်ဆေးမှုနည်းလမ်းများတွင် -

1) တိပ်ခွေနည်းလမ်း - တိပ်ခွေသည်သတ္တုအလွှာ၏မျက်နှာပြင်နှင့်နီးသည်။ 10 စက္ကန့်အကြာတွင်တိပ်ခွေကိုသတ္တုအလွှာသို့တင်းတင်းကျပ်ကျပ်ဆွဲထုတ်ပါ။ သတ္တုအလွှာကိုအလွှာမှသတ္တုအလွှာကိုဖယ်ရှားခြင်းရှိမရှိစစ်ဆေးပါ။ တိပ်ခွေနည်းလမ်းသည်အရည်အသွေးစစ်ဆေးမှုနည်းလမ်းဖြစ်သည်။

2) ဂဟေဝါယာကြိုးဝါယာကြိုးနည်းလမ်း - အချင်း 0.5 မီလီမီတာသို့မဟုတ် 1.0 မီလီမီတာရှိသောသတ္တုဝါယာကြိုးကိုရွေးချယ်ပါ။ မီတာ။

3) Peel Sign Method - ကြွေထည်မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိသတ္တုအလွှာသည် 5 မီလီမီတာကို 5 မီလီမီတာရှိသတ္တုအလွှာ (ဖြတ်) ကိုဖယ်ထုတ်ပြီးအခွံစွမ်းအားကိုစမ်းသပ်ရန်အခွံစွမ်းအားစစ်ဆေးခြင်းစက်ပေါ်တွင်ဒေါင်လိုက်အနေဖြင့်ဖယ်ရှားပစ်လိုက်သည်။ Stripping speed သည် 50 မီလီမီတာ / min နှင့်တိုင်းတာခြင်းအကြိမ်ရေသည် 10 ဆ / ဖြစ်သည်။

အပူဂုဏ်သတ္တိများစစ်ဆေးခြင်း

Ceramic substrate ၏အပူဂုဏ်သတ္တိများသည်အဓိကအားဖြင့်အပူစီးကူးခြင်း, အပူခံနိုင်ရည်, အပူခံနိုင်ရည်, အပူတိုးချဲ့ကိန်းနှင့်အပူခံနိုင်ရည်ရှိသည်။ ကြွေထည်အလွှာသည်အဓိကအားဖြင့် Device Packaging တွင်အပူလွန်ကဲခြင်းအခန်းကဏ် plays မှအဓိကအားဖြင့်အဓိကအားဖြင့်ကစားသည်။ ထို့ကြောင့်၎င်း၏အပူဓာတ်ပြုခြင်းသည်အရေးကြီးသောနည်းပညာဆိုင်ရာအညွှန်းဖြစ်သည်။ အပူခံနိုင်ရည်ကိုအပူခံနိုင်ရည်သည်အဓိကအားဖြင့်အပူချိန်အလွှာသည်အောက်တိုဘာများနှင့်အရောင်ပြောင်းခြင်း, အဆီပြုခြင်း,

ကြွေထည်အလွှာ၏အပူစီးကူးမှုသည်ကြွေထည်အလွှာ (ခန္ဓာကိုယ်အပူခံနိုင်ရည်) ၏ပစ္စည်းအပူစီးကူးမှုနှင့်သက်ဆိုင်သည်။ ထို့ကြောင့်အပူခံနိုင်ရည်ကိုစမ်းသပ်သူ (ခန္ဓာကိုယ်အပူခံနိုင်ရည်ကိုတိုင်းတာခြင်းနှင့်အလွှာပေါင်းစုံဖွဲ့စည်းပုံ၏အပူချိန်ကိုအပူခံနိုင်ရည်ရှိခြင်း) ကိုထိရောက်စွာအကဲဖြတ်နိုင်သည်။

လျှပ်စစ်ဂုဏ်သတ္တိများစစ်ဆေးခြင်း

ကြွေထည်ပစ္စည်း၏လျှပ်စစ်စွမ်းဆောင်ရည်သည်အဓိကအားဖြင့်သတ္တုအလွှာ၏ရှေ့နှင့်နောက်ဖက်ရှိသတ္တုအလွှာသည်ထိန်းချုပ်မှုကိုရည်ညွှန်းသည်ဖြစ်စေ, DPC Ceramic substrate ၏အပေါက်၏အပေါက်ငယ်များကြောင့် Electroplating, X-Ray Tester (အရည်အသွေး, appresse tester) တွင်အပေါက်များကိုဖြည့်သည့်အခါမပြည့်စုံသော, ယေဘုယျအားဖြင့်ကြွေထည်အလွှာ၏အပေါက်အရည်အသွေးကိုအကဲဖြတ်ရန်အသုံးပြုနိုင်သည်။

ထုပ်ပိုးဂုဏ်သတ္တိများစစ်ဆေးခြင်း

Ceramic Sundstrate ၏ထုပ်ပိုးမှုစွမ်းဆောင်ရည်သည်အဓိကအားဖြင့် 0 ဒ်အပြည့်နှင့်လေကြောင်းတင်းကျပ်မှုကိုရည်ညွှန်းသည်။ ခဲဝါယာယာ၏နှောင်ကြိုးကိုတိုးပွားစေရန် Metal of Metal of Metal of Metal ၏အလွှာသည် u or or or or strstrate (အထူးသဖြင့်ဂဟေဆော်ခြင်း) ကိုကာကွယ်ရန်သတ္တုအလွှာ (အထူးသဖြင့်ဂဟေဆော်ခြင်း) ၏မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင်လျှပ်ကူးခြင်းသို့မဟုတ် electroplated ဖြစ်သည် နှင့် ဦး ဆောင်ဝါယာကြိုး၏နှောင်ကြိုးအရည်အသွေးတိုးတက်အောင်။ ဂဟေဆော်ခြင်းကိုယေဘုယျအားဖြင့်လူမီနီယမ်ဝါယာကြိုးဂဟေများနှင့်တင်းမာမှုမီတာဖြင့်တိုင်းတာသည်။

အဆိုပါချစ်ပ်ကို 3D ကြွေထည်အလွှာအခေါင်းပေါက်ပေါ်တွင်တပ်ဆင်ထားပြီးစက်၏လုံ့ရင်း၏လေလုံအစီအစဉ်ကိုနားလည်သဘောပေါက်ရန်အခေါင်းပေါက် (သတ္တုသို့မဟုတ်ဖန်ခွက်) ဖြင့်တံဆိပ်ခတ်ထားသည်။ ဆည်ပစ္စည်းနှင့်ဂဟေဆော်ခြင်းနှင့်ဂဟေဆော်ခြင်းဆိုင်ရာပစ္စည်းသည်ကိရိယာအထုပ်၏လေကြောင်းတင်းတင်းကျပ်ကျပ်နှင့်ကွဲပြားခြားနားသောနည်းလမ်းများဖြင့်ပြင်ဆင်ထားသောသုံးရှုထောင့်ကြွေထည်အလွှာများ၏လေထုတင်းကျပ်စွာကဖော်ပြသည်။ ရှုထောင်ကြွေထည်ပစ္စည်းသုံးခုကိုအဓိကအားဖြင့်ရေကာတာပစ္စည်းနှင့်ဖွဲ့စည်းပုံကိုစမ်းသပ်ရန်အဓိကအားဖြင့်အသုံးပြုသည်။

ယုံကြည်စိတ်ချရစမ်းသပ်မှုနှင့်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာ

Cerramication သည် Ceramic substrate ၏စွမ်းဆောင်ရည်ပြောင်းလဲခြင်းကိုတိကျသောပတ် 0 န်းကျင်ပြောင်းလဲခြင်း (အပူချိန်မြင့်ခြင်း, အပူချိန်မြင့်ခြင်း, အပူချိန်မြင့်ခြင်း, အပူချိန်မြင့်ခြင်း, အပူချိန်မြင့်ခြင်း, အပူချိန်မြင့်ခြင်း, အပူချိန်မြင့်ခြင်း, Corrosion ခုခံခြင်း, ချေးခြင်းခံနိုင်ရည်, မြင့်မားသောကြိမ်နှုန်းတုန်ခါမှုစသည်တို့ကို Electron Microscopy (SED) နှင့် X-Ray date နှင့် x-ray date ကိုစကင်ဖတ်စစ်ဆေးခြင်းဖြင့်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာနိုင်သည်။ အသံအဏုကြည့်မှန်ပြောင်း (ဆမ်) နှင့် x-Ray detector (x-Ray) ကိုစကင်ဖတ်စစ်ဆေးသည်။